二、电阻应变计法
工作原理：电阻应变计是基于应变导致电阻变化的原理来工作的。将电阻应变计粘贴在被测物体表面，当物体受到载荷时，应变计会发生形变，导致其电阻值的变化。通过测量电阻值的变化，可以确定应变大小，进而推算出应力。
类型与应用：常见的电阻应变计有金属应变计和半导体应变计。金属应变计主要适用于动态应变测量，而半导体应变计则适用于静态及高温应变测量。
三、光弹性法
基本原理：光弹性法是一种利用光的干涉原理来测量应力和应变的方法。它通过观察并记录干涉条纹的变化来推算出应力和应变的分布情况。
设备与优点：光弹性法常用的设备包括维尔贝克（Disc-more）干涉条纹法和技巧干涉条纹法等。这种方法的优点是非接触性，适用于复杂形状和高温等特殊条件下的应变测量。
四、其他方法
除了上述方法外，还有一些其他微观应力测量方法，如中子衍射法、穆斯堡尔谱法等。这些方法各有特点，适用于不同的材料和测量条件。例如，中子衍射法特别适合于测量大块材料的内部应力分布；而穆斯堡尔谱法则可以用于研究材料中原子核周围的局部环境和应力状态。
综上所述，微观应力测量方法多种多样，选择哪种方法取决于具体的测量需求、材料类型和实验条件。在实际应用中，需要根据具体情况综合考虑各种因素来选择最合适的测量方法。